美國加州 Woo Sik Yoo博士 WaferMasters, Inc.
• WaferMasters,Inc。聯合創始人,總裁兼首席技術官
• 日本京都大學電氣工程碩士與博士學位。美國西康乃狄克州立大學工商管理碩士學位
• 美國羅德島州布朗大學材料科學與工程系的訪問科學家(1993年~1994年)
• 設計Wafermasters基於拉曼光譜的晶圓表面輪廓檢測系統&熱處理的單晶圓RTP系統、閃光退火系統、多波長拉曼光譜系統、多波長光致發光(PL)
等研究。
• 開發工廠自動化,材料科學,生活科學,考古學,保護科學,環境科學和農業研究應用的圖像分析軟體。
• 撰寫和共同撰寫了300多篇關於薄膜製程熱處理領域的論文,包含薄膜沉積,矽和半導體相關化合物半導體的材料表徵。
• 在各種國際大數據會議與圖像處理技術會議上作為特邀發言人。
• 與領先的半導體設備製造商和設備合作供應商。(S面板,S記憶體,T公司與L公司等等)
• 2005年獲得固態電子元件與材料(SSDM)獎,持有62個美國專利獎和眾多外國專利。
• 韓國知名的科技雜誌 (CAD&Graphics) 月刊已連載Dr.Yoo的Image processing 相關技術2年, CAD&Graphics預定2019年仍將繼續連載刊登,
目前正在籌備出版Image processing 技術相關書籍。
• WaferMasters,Inc。聯合創始人,總裁兼首席技術官
• 日本京都大學電氣工程碩士與博士學位。美國西康乃狄克州立大學工商管理碩士學位
• 美國羅德島州布朗大學材料科學與工程系的訪問科學家(1993年~1994年)
• 設計Wafermasters基於拉曼光譜的晶圓表面輪廓檢測系統&熱處理的單晶圓RTP系統、閃光退火系統、多波長拉曼光譜系統、多波長光致發光(PL)
等研究。
• 開發工廠自動化,材料科學,生活科學,考古學,保護科學,環境科學和農業研究應用的圖像分析軟體。
• 撰寫和共同撰寫了300多篇關於薄膜製程熱處理領域的論文,包含薄膜沉積,矽和半導體相關化合物半導體的材料表徵。
• 在各種國際大數據會議與圖像處理技術會議上作為特邀發言人。
• 與領先的半導體設備製造商和設備合作供應商。(S面板,S記憶體,T公司與L公司等等)
• 2005年獲得固態電子元件與材料(SSDM)獎,持有62個美國專利獎和眾多外國專利。
• 韓國知名的科技雜誌 (CAD&Graphics) 月刊已連載Dr.Yoo的Image processing 相關技術2年, CAD&Graphics預定2019年仍將繼續連載刊登,
目前正在籌備出版Image processing 技術相關書籍。
Woo Sik Yoo, Ph.D 400多半導體製程相關論文
拉曼特性之於矽穿孔洞旁的壓力raman_characterization_of_si_stress_near_tsvs_spie_jm3.pdf | |
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光學表面輪廓術和多波長拉曼光譜ecs2008_osp.pdf | |
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tsv製程中晶圓形狀和局部應力的演變ssdm_2011_osp_mrs_tsv_final_.pdf | |
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鍵合矽晶圓的光致發光特性對於界面質量的影響photoluminescence_characterization_of_interface_quality_of_bonded_silicon_wafers_ecs_jss_2016.pdf | |
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矽晶圓之拉曼訊號偏振polarized_raman_signals_from_si_wafers_ecs_jss.pdf | |
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各向異性和支撐配置對於矽晶圓測量的影響effects_of_anisotropy_and_supporting_configuration_on_silicon_wafer_profile_measurement_ecs_ssl.pdf | |
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